内置自测试（BIST）与输出测试
AD9284 包含一个内置自测试功能，旨在验证每个通道的完整性，并便于板级调试。该功能包括一个内置自测试（BIST），用于验证 AD9284 数字数据路径的完整性。同时还提供多种输出测试选项，可在 AD9284 的输出端生成可预期的数据值。
内置自测试（BIST）
BIST 是对所选 AD9284 信号路径中数字部分的全面测试。建议在复位后执行 BIST，以确保芯片处于已知状态。在 BIST 过程中，来自内部伪随机噪声（PN）源的数据会被驱动通过两个通道的数字数据路径，从 ADC 模块的输出开始。在数据路径的输出端，CRC 逻辑会根据数据计算一个“签名”。BIST 序列运行 512 个周期后停止。测试完成后，BIST 会将计算出的签名与预设值进行比较。
如果签名匹配，BIST 将设置寄存器 Ox0E 的 Bit 0，表示测试通过。
如果测试失败，Bit 0 将被清除。
在此测试期间，输出是连接的，因此可以观察到 PN 序列的运行。
要将 BIST 启动，需向寄存器 Ox0E 写入值 0x05。这会启用寄存器 Ox0E 的 Bit 0（BIST 使能）并重置 PN 序列生成器（Bit 2，BIST 初始化）。BIST 完成后，Bit 0 会自动清除。如果 PN 序列未重置，签名计算结果将不等于预定值，此时用户需通过验证输出数据来判断结果。
输出测试模式
输出测试选项详见地址为 Ox0D 的表 12。当启用某个输出测试模式时，ADC 的模拟部分会与数字后端模块断开连接，测试图案将通过输出格式化模块运行。某些测试图案会受输出格式化的影响，而另一些则不会。
PN 序列测试中的 PN 生成器可以通过设置寄存器 Ox0D 的 Bit 4 或 Bit 5 来重置。这些测试可以在有或没有模拟信号的情况下进行（如果有模拟信号，将被忽略），但都需要一个编码时钟。