奇偶校验错误检测
AD8556 利用奇偶校验来判断已写入的数据是否有效，或判断非易失存储器中的数据是否已损坏。图 50 给出了芯片内部实现该功能的原理图。
VA0～VA2：第二级增益的 3 位控制信号
VB0～VB6：第一级增益的 7 位控制信号
VC0～VC7：输出失调的 8 位控制信号
PFUSE：来自“奇偶熔丝”的信号
MFUSE：来自“主熔丝”的信号
二输入与门（Cell AND2）的作用是：当主熔丝未烧断（MFUSE = 0）时，忽略奇偶电路的输出（PAR_SUM），此时 PARITY_ERROR 被强制为 0。例如在仿真模式下，奇偶校验被禁用。只有在主熔丝烧断（即芯片完成编程）后，PAR_SUM 才会被送到 PARITY_ERROR。
若 PARITY_ERROR = 0：芯片按已编程的增益/失调正常工作
若 PARITY_ERROR = 1：检测到奇偶错误，输出 VOUT 被拉至 VSS（地）
18 位数据信号（VA0～VA2、VB0～VB6、VC0～VC7）送入一个 18 输入异或门（Cell EOR18），其输出为 DAT_SUM。
若 18 位数据中“1”的个数为偶数 → DAT_SUM = 0
若为奇数 → DAT_SUM = 1（示例见表 13）
完成第二级增益、第一级增益和输出失调的编程后，计算 DAT_SUM 并将其值写入“奇偶位”：
如果 DAT_SUM = 0，则不烧断奇偶熔丝，使 PFUSE = 0
如果 DAT_SUM = 1，则烧断奇偶熔丝，使 PFUSE = 1
烧断奇偶熔丝的指令码：
1000 0000 0001 10 11 10 0000 0100 0111 1111 1110
奇偶位设置完毕后，可烧断主熔丝以禁止再次编程，指令码：
1000 0000 0001 10 11 10 0000 0001 0111 1111 1110
信号 PAR_SUM 来自二输入异或门（Cell EOR2，输入为 DAT_SUM 与 PFUSE）。主熔丝烧断后，PARITY_ERROR = PAR_SUM。
PARITY_ERROR = 0：无校验错误，芯片按设定参数正常工作
PARITY_ERROR = 1：校验错误，VOUT 被强制连接到 VSS
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