MOSFET 故障检测
LTC4266 的 PSE 端口设计可承受一定程度的滥用，但在极端情况下，外部 MOSFET 仍可能损坏。失效的 MOSFET 可能出现源极与漏极短路，导致端口在应关闭时仍表现为导通状态；此状况还会引起检测电阻熔毁，从而关闭端口，但会导致 LTC4266 的 SENSE 引脚电压异常升高。失效的 MOSFET 也可能出现栅极与漏极短路，导致 LTC4266 的 GATE 引脚电压异常升高。LTC4266 的 SENSE 和 GATE 引脚设计可耐受高达 80V 的故障电压而不受损。
若 LTC4266 电子元件检测到上述任一条件持续超过 180μs，它将禁用该端口的所有功能、降低该端口的栅极驱动下拉电流，并报告“FET Bad”故障。这通常属于永久性故障，但主机可通过复位该端口或复位整个芯片尝试恢复（前提是端口复位未能清除故障）。如果 MOSFET 确实已损坏，故障将迅速重现，端口会再次自行禁用。LTC4266 的其余端口不受影响。
开路或缺失的 MOSFET 不会触发“FET Bad”故障，但如果 LTC4266 尝试向该端口供电，则会引发 ISTART 故障。