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亚德诺ADUC832闪存/EE存储器可靠性分析

2026/5/11 14:28:33
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ADuC832上的Flash/EE程序和数据存储器阵列完全符合两个关键的Flash/EE存储器特性，即Flash/EE存储器循环耐久性和Flash/EE存储数据保留。

耐久性量化了Flash/EE存储器在许多编程、读取和擦除周期中循环的能力。实际上，单个Flash/EE内存耐久周期由以下四个独立的连续事件组成：

初始页面擦除顺序

读取/验证序列

字节程序序列

第二次读取/验证序列

在可靠性鉴定中，程序和数据Flash/EE存储器中的每个字节都从00H循环到FFH，直到记录到第一次故障，这表示片上Flash/EE内存的耐久极限。

如规范部分所述，ADuC832闪存/EE存储器耐久性鉴定已根据JEDEC规范A117在-40°C至+25°C和+85°C至+125°C的工业温度范围内进行。结果允许规定100000次循环的供应和温度下的最小耐久值，其中700000次循环是25°C下运行的典型耐久值。

保留量化了Flash/EE存储器随时间保留其编程数据的能力。同样，ADuC832已在特定结温（TJ=55°C）下根据正式的JEDEC保留寿命规范（A117）进行了鉴定。作为此鉴定程序的一部分，在对数据保留进行特征描述之前，将Flash/EE存储器循环到之前描述的指定耐久极限。这意味着，每次对Flash/EE存储器进行重新编程时，都可以保证其数据在指定的完整保留寿命内保留。还应注意的是，基于0.6 eV活化能的保留寿命随着TJ的降低而降低，如文末图片所示。

亚德诺ADUC832闪存/EE存储器可靠性分析
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