测量晶振（晶体振荡器）好坏的方法主要包括以下几种：
1. 频率测试
使用频率计/示波器：将晶振连接至频率计或示波器，测量其输出频率是否符合标称值。测量频率的准确性和稳定性是判断晶振好坏的关键要素。
频率偏差：比较测得的频率与晶振标称频率之间的差值，若偏差过大，可能说明晶振存在问题。
2. 波形测试
波形观察：使用示波器观察晶振输出波形。正常的晶振输出应为正弦波或方波，具有明显的上升沿和下降沿。
波形质量：检查波形是否失真、上下对称（对于方波），以及是否有噪声和毛刺等异常现象，若有明显问题则可能影响晶振性能。
3. 输出阻抗测试
输入输出阻抗测试：使用阻抗分析仪测量输出阻抗，确认其是否在正常范围内。异常的输出阻抗可能导致匹配问题，从而影响频率输出。
4. 相位噪声测试
相位噪声分析：使用相位噪声分析仪测试晶振的相位噪声特性，检查其相位噪声是否符合规范。相位噪声过高可能指示晶振性能不佳。
5. 温度测试
温度特性测试：测试晶振在不同温度下的性能，对比其频率稳定性和偏差。温度变化对晶振的影响是评估其性能的重要指标。
6. 外观检查
物理检查：观察晶振的外观，检查是否有物理损伤、松动的引脚或明显的腐蚀等缺陷。外观异常可能表明晶振已损坏。
7. 使用电路测试
上电测试：将晶振放置于其设计电路中，观察是否能正常驱动电路，信号输出是否正常、稳定。
功能测试：验证与晶振相连的系统是否正常工作，若系统无法正常运行，可能需要进一步检查晶振。
8. 老化测试
寿命测试：在规定的工作条件下，进行持续工作以观察晶振的老化情况，分析频率漂移或频率稳定性的变化。
通过上述方法，能够对晶振的健康状态进行较为全面的评估，判断其是否正常工作或需要更换。